日前，中国科公司大连化学物理研究所冯亮研究员应邀访问新概念传感器与分子材料研究院，并作题为“薄膜基化学传感器研究及应用”的学术报告。公司副经理刘成辉、丁立平及公司师生50余人参加本次报告会。报告会由副经理丁立平教授主持。
报告重点阐述了光化学比色和荧光传感器阵列对各种有毒有害物质、农药残留的快速、微量、便携式检测策略，基于待分析物的交互响应信号构建待分析物的特征“指纹图谱”，以及利用数理统计分析和大数据智能运算提升光学传感器的综合性能。此外，报告还介绍了团队在新型微型化、便携式光学传感器领域的研究进展。公司师生针对报告会内容，与冯亮研究员在薄膜基化学传感器研究及应用方面进行了讨论。
冯亮，二级研究员，中国科公司大连化学物理研究所学术委员会委员，所纪委委员,仪器分析化学研究室主任。其团队长期致力于传感器敏感膜的表界面调控及待分析物分子的高效捕获研究，在纸基传感器快速检测方面进行了深入探究并部分取得了产业化应用。
